![](/uploads/posts/2021-01/thumbs/1611684953_e7b3710de29ac946187727ff285c7689.jpg)
Автор: Марин В.П., Гродзенский С.Я.
Издательство: МИРЭА
Год: 2009
ISBN: 978-5-7339-0760-4
Формат: pdf
Страниц: 136
Размер: 63,5 Мб
Язык: Русский
В учебном пособии рассматриваются актуальные вопросы анализа надежности и испытаний различных типов изделий радиоэлектроники. В пособии рассмотрены этапы формирования и развития теории надежности, трактуются основные понятия термины и определения, относящиеся к надежности в технике. Разбирается вероятностный, статистический и физический смысл показателей надежности. Анализируются модели отказов на основе статистико-физического подхода.
![](/templates/Mirlib/images/MirLib.png)
[related-news] [/related-news]
Комментарии 0
Комментариев пока нет. Стань первым!