Основы анализа поверхности и тонких пленок » MIRLIB.RU - ТВОЯ БИБЛИОТЕКА
Категория: КНИГИ » ЕСТЕСТВЕННЫЕ НАУКИ
Основы анализа поверхности и тонких пленок
/
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Название: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л., Майер Д.
Издательство: М.: Мир
Год: 1989
Формат: pdf
Страниц: 344
Размер: 11 mb
Язык: Русский

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.





ОТСУТСТВУЕТ ССЫЛКА/ НЕ РАБОЧАЯ ССЫЛКА ЕСТЬ РЕШЕНИЕ, ПИШИМ СЮДА!





[related-news]
[/related-news]
Комментарии 0
Комментариев пока нет. Стань первым!